Test parametrici e funzionali

Disponiamo dei più avanzati macchinari per l’In-Circuit Tests (ICT) tramite tecnologia “Bed of Nails” della piattaforma SPEA. Il processo è integrato anche dalla fase di programmazione On-Board.
Per quanto riguarda invece i test funzionali grazie alla partnership instaurata negli anni con un azienda di macchine di test siamo in grado di realizzare test funzionali personalizzati per ogni scheda e tipo di applicazione.